Instrumento y método para calibrar la uniformidad de la iluminación con aplicación en medida de reflectancia con imágenes multiespectrales o hiperespectrales. La presente invención se refiere a un instrumento para calibrar la uniformidad de la iluminación de una muestra (9) que permite extraer el patrón de iluminación sobre una superficie desplazando la fuente de iluminación (1) con respecto a la muestra (9) a testar, que no es necesario mover, sin necesidad de utilizar una pantalla blanca calibrada cuasi lambertiana del tamaño de la muestra. El patrón obtenido se determina mediante un cálculo de diferencias entre la imagen A y la imagen B. Este patrón se puede usar para obtener la distribución de luz en una superficie cualquiera y se puede emplear para la calibración de la iluminación en medidas de reflectancia con cámaras hiperespectrales