La presente invención se refiere a un dispositivo optoelectgrónico para determinar parámetros ópticos de una lente, un sistema de lentes o un sistema óptico formador de imágenes, como son la posición de los planos principales y de los planos focales y las distancias focales, y a métodos para determinar estos parámetros. El dispositivo comprende un elemento de colimación, una red de difracción de periodo p conocido, un sistema de detección, que puede ser una matriz de fotodetectores lineal o bidimensional CCD o CMOS, uno o más elementos de procesamiento de datos y un dispositivo de desplazamiento, por ejemplo un motor lineal, para desplazar el sistema de detección a lo largo del eje óptico del dispositivo. La lente, sistema de lentes o sistema óptico formador de imagen incógnita se coloca entre la red de difracción y el sistema de detección.