Objetivos

Conocer los principios físicos, utilidad y posibilidades de una amplia gama de técnicas avanzadas de caracterización que se utilizan actualmente para resolver problemas, tanto fundamentales como aplicados, en Nanotecnología, Física de Materiales y Física del Estado Sólido.

Conocimientos previos necesarios

Conocimientos generales de Física del Estado Sólido. Serán de utilidad, pero no imprescindibles, conocimientos sobre Física de materiales y técnicas básicas de caracterización de materiales.

Programa de la asignatura

 

• Espectroscopias y microscopias ópticas: Microscopia confocal. Espectroscopia y microscopia Raman. Espectroscopia Brillouin. Absorción óptica. Técnicas de luminiscencia: PL, EL, TL. Aplicaciones en materiales electrónicos y optoelectrónicos.

 

• Técnicas avanzadas de microscopia electrónica: Microscopia electrónica de barrido: CL, EBIC, EBSD. Microscopia electrónica de trasmisión: HREM, HAADF, EELS. Técnicas en la ICTS Centro Nacional de Microscopia electrónica - UCM.

 

• Microscopias de campo cercano: Microscopia y espectroscopia de efecto túnel (STM, STS, STMs). Microscopios de fuerzas y sus aplicaciones (AFM, MFM, EFM, KPM, SNOM).

 

• Técnicas de espectroscopia en grandes instalaciones: Técnicas en centros de radiación sincrotrón. Espectroscopia de fotoemisión y estructura electrónica. NanoPES y NanoESCA. Espectroscopias de absorción de electrones: XAS, NEXAFS. Dicroísmo magnético. Fotoemisión resuelta en espín.

 

• Técnicas de difracción: Difracción de neutrones: aplicación para el análisis de las propiedades estructurales y magnéticas. Difracción de RX en grandes instalaciones de radiación sincrotrón: difracción de superficies, determinación de estructuras de proteínas. Difracción de iones: RBS

Bibliografía

- Handbook of Applied Solid State Spectroscopy. D.R. Vij, Springer (2006).

 

- Solid State Spectroscopy. H. Kuzmany, Springer (1998).

 

- Science of Microscopy. P.W. Hawkes & C.H. Spence (Edit.), Springer (2007).

 

- Raman Scattering in Materials Science. W.H. Weber & R. Melin (Edit.) Springer (2000).

 

- Electron Microscopy and Analysis. P. J. Goodhew, J. Humphreys, R. Beanland,

Taylor & Francis (2001).

 

- SEM microcharacterization of semiconductors. D.B. Holt & D.C. Joy, Academic Press (1989).

 

- Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: methods and applications. R. Wiesendanger, Cambridge University Press (1994).

 

- Handbook of Microscopy for Nanotechnology. Nan Yao & Zhong Lin Wang (Edit.), Kluwer Academic Publishers (2005).

 

- Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials. V.K. Pecharsky and P.Y. Zavalij, Springer (2005).

 

- Neutron and X-ray spectroscopy. F. Hippert, E.Geissler, J.L. Hodeau, E. Lelievre-Berna, Springer (2006).