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Patentes

 

  • Dispositivo opto-electrónico y métodos para determinar parámetros ópticos de una lente o sistema de lentes
    L.M. Sánchez-Brea, F.J. Torcal Milla
    num. Patente: ES 2600503 B2 fecha de concesión: 03/10/2017
    Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid

 

  • Métodos y dispositivos optoelectrónicos para colimar y/o para determinar el grado de colimación de un haz de luz
    L.M. Sánchez-Brea, J.M. Herrera-Fernandez
    num. Patente: ES2549977B2 fecha de concesión: 18/02/2016
    Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid

 

  • Dispositivo opto-electrónico y métodos para colimar y determinar el grado de colimación de un haz de luz
    L.M. Sánchez-Brea, F.J. Torcal Milla
    num. Patente: ES2540921B2 fecha de concesión: 01/02/2016
    Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid

 

  • Sensor óptico de la posición absoluta, con un fotodetector de imagen
    T. Morlanes Calvo, L.M. Sánchez Brea
    num. Patente: ES2199686 B1, fecha de concesión: 01/09/2005
    Entitudad titular: Fagor S. Coop.
    Empresa explotadora: Fagor Automation S. Coop

 

  • Device for the detection of surface defects on cylinders
    E. Bernabeu, J.C. Martínez-Antón, L.M. Sánchez-Brea, P. Siegmann, C. Kraemer
    num. Patente: WO/2003/044505, fecha de publicación: 30/05/2003
    País de prioridad AU, CA, JP, US. European Patent Office
    Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
    Empresa explotadora: Zumbach Electronics (Suiza)

 

  • Dispositivo para la detección de defectos superficiales sobre cilindros
    E. Bernabeu, J.C. Martínez-Antón, L.M. Sánchez-Brea, P. Siegmann, C. Kraemer
    num. Patente: ES2187381, fecha de publicación: 01/06/2003
    Entitudad titular: Universidad Complutense de Madrid
    Empresa explotadora: Zumbach Electronics (Suiza)