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Investigación

Empecé desarrollando técnicas automáticas de medida para caracterizar lentes oftálmicas e inspeccionar superficies. Hoy aplico visión artificial y deep learning a problemas de medida, inspección y análisis de imagen. Formo parte del grupo AOCG (Applied Optics Complutense Group).   307 citas ·  2 sexenios · 4 patentes · 18 proyectos

ORCID · Google Scholar · Scopus · Portal Científico UCM. 

 

Líneas de investigación

  • Visión artificial y deep learning: segmentación y detección en imagen científica, por ejemplo partículas en microscopía crioelectrónica, y estimación de parámetros ópticos a partir de imágenes.
  • Óptica oftálmica: caracterización automática de lentes mediante deflectometría, medida de frente de onda y control de calidad en fabricación.
  • Metrología e inspección industrial: moiré, luz estructurada y algoritmos sub-píxel para inspeccionar superficies en los sectores aeronáutico y metalúrgico.
  • Iluminación y patrimonio cultural: proyección y captación multiespectral para estudiar, iluminar y digitalizar obras de arte, como el Pórtico de la Gloria o la Cueva de El Castillo.

 

Publicaciones en revistas

 

Patentes

  • Sistema automático de captación de imágenes multiespectrales para digitalizar un objeto. ES3054232A1 y PCT/ES2025/070419 (2024). UC3M–UCM.
  • Lighting system and method. EP3147821B1 y FR3041739B1 (2018-2019). Explotada por Valeo Vision.
  • Procedimiento y sistema de selección de iluminación en superficies polícromas. ES2669819B1 (2019). Explotada por Lledó Iluminación.
  • Aparato para caracterización óptica utilizando imágenes controladas automáticamente. ES2177471B2 y WO2002097361 (2003). Surgió de un proyecto con Essilor.

 

Proyectos de investigación

  • 2023-2026 Crio-microscopía electrónica: de la revolución de la resolución al diseño de nuevos fármacos MICINN
  • 2017-2021 Desarrollo de herramientas de ingeniería óptica Valeo
  • 2016-2017 Sistema LED de iluminación inteligente Lledó Iluminación y CDTI
  • 2015-2016 Reflectancia espectral colorimétrica de precisión en el Pórtico de la Gloria Fundación Catedral de Santiago
  • 2014-2015 Validación de un sistema de iluminación inteligente selectiva en automoción Valeo
  • 2012-2015 Caracterización y proyección de iluminación espectro-espacial en obras de arte MINECO
  • 2011 Criterios técnicos de iluminación en la Cueva de El Castillo (Puente Viesgo) Ministerio de Cultura
  • 2009-2012 Sistema de altas prestaciones para iluminación de bienes culturales MICINN
  • 2009-2012 Antenas ópticas acopladas a sistemas micro y nano electromecánicos MICINN
  • 2009-2010 Coarse Lateral Sensor Thales Alenia Space
  • 2009 AOCG Architecture, Sensors & Microcomponents
  • 2007 Testeo y validación de equipos de prácticas de óptica y electricidad Eversus
  • 2006-2007 Measure, design and improvement of light tube luminaires 3M Italia
  • 2004-2007 Técnicas ópticas de control de calidad para la industria de lentes oftálmicas MEC
  • 2003-2004 Sistemas de control de calidad en la fabricación de lentes Essilor España
  • 2002-2004 Sistema modular estereoscópico de imágenes con LED de alto brillo Rótulos Ayllón
  • 2001-2004 Caracterización y control de lentes oftálmicas en tiempo real MCYT
  • 1999-2002 INDUCE: Integrated NDT Concepts for Unified Life-Cycle Unión Europea

Congresos

He presentado más de 20 contribuciones en congresos nacionales e internacionales (SPIE, Fringe, World Conference on NDT, OPTOEL, Reunión Nacional de Óptica). Algunos trabajos presentados: 
• Medición automática de focales locales de objetos de fase por Deflectometría Moiré
• Automatic measurements of paraxial focal distances in ophthalmic lenses by moiré deflectometry
• Local Fringe Direction calculation and application in moiré deflectometry
• Una generalización de la ley de Prentice para lentes oftálmicas con superficies ópticas asféricas
• Procesado de deflectogramas moiré aplicado a la caracterización de lentes oftálmicas
• Ophthalmic lens characterization by moiré deflectometry with squared gratings
• Phase extraction methods for analysis of crossed fringe patterns
• Sistemas de metrología óptica industrial basados en dispositivos CCD
• Sensores ópticos para el desarrollo y control industrial
• Deflectometría Láser directa con algoritmos de resolución sub-pixel
• Shadow-Moiré and the use of flexible gratings to adapt to curved surfaces
• Cámaras CCD: control automático y resolución sub-pixel.
• In-line detection and evaluation of surface defects on thin metallic wires
• Detection of micro-bumps in aeronautic surfaces by means of an elastical moiré system
• Wavefront measurement technique by analyzing patterns displayed on a monitor
• Automatic system for surface inspection by shadow moiré technique
• Structured light-based NDT techniques of interest in the aerospace industry
• Simulación de la distribución espacial de luminancia en rótulos luminosos con leds.
• Point to point multispectral light projection applied to cultural heritage.