Publicado el 16/05/2013 a las 14:33 horas
La ampliación del horizonte de la exploración microscópica es ya una realidad gracias a la incorporación en los microscopios electrónicos de los nuevos correctores de aberración. Con ellos es posible llevar la captación y el estudio de los materiales, hasta las fronteras del conocimiento. Los recientes desarrollos de la óptica electrónica permiten observar la imagen directa de un sólido a 0,1 nm, así como información de su composición, mediante técnicas espectrográficas asociadas. Como EELS (Energy Electrón Lost Sprectroscopy) y EDS( Energy Dispersive Spectroscopy) Estos espectaculares avances que están permitiendo la observación directa de elementos ligeros, como el litio, el neón y otros, abre nuevas posibilidades de estudio al poder establecerse la relación estructura y propiedades, por debajo de los niveles de la resolución atómica.
De todo ello se hablará del 1 al 5 de julio en el curso: “La resolución atómica: una revolución en la microscopía electrónica” en el que participarán con sus ponencias y debates, destacados especialistas nacionales y extranjeros, como: Tetsuo Oikawa, Paolo Longo,Esteban Urones Garrote, o Gianluigi Bottom que impartirá su conferencia en inglés con traducción simultánea.

. Tetsuo Oikawa uno de los destacados ponentes del curso.